မြန်မာလူမျိုး သိပ္ပံပညာရှင် ဒေါက်တာ စောဝေလှ ခေါင်းဆောင်ဦးစီးသည့် အဖွဲ့တစ်ဖွဲ့သည် သိပ္ပံပညာနှင့် ကျန်းမာရေးကို အထောက်အကူ များစွာပေးမည့် နည်းပညာတစ်ခုဖြစ်သော အက်တမ်တစ်လုံးချင်းစီကို X-Ray ပုံရိပ်ရယူနိုင်သည့် နည်းပညာသစ်ကို ရှာဖွေတွေ့ရှိသွားခဲ့ပြီဖြစ်ကြောင်း သိရှိရသည်။

မြန်မာလူမျိုး သိပ္ပံပညာရှင် ဒေါက်တာ စောဝေလှ ဦးဆောင်သည့် အမေရိကန်ပြည်ထောင်စု အိုဟိုင်းအိုး တက္ကသိုလ်ရှိ သိပ္ပံပညာအဖွဲ့တစ်ဖွဲ့သည် ကမ္ဘာ့ပထမဆုံးတွေ့ရှိမှုအဖြစ် အက်တမ်တစ်လုံးချင်းစီ၏ပုံရိပ်ကို X-Ray ပုံရိပ် ရယူနိုင်သောနည်းပညာအား ရှာဖွေတွေ့ရှိခဲ့ကြခြင်းဖြစ်သည်။

X-Ray ကို နည်းပညာကို စတင်တွေ့ရှိခဲ့သည့် ၁၈၉၅ ခုနှစ် Roentgen အဆင့်မှ စတင်ကာ နှစ်ပေါင်းများစွာ ကြာမြင့်သည့်တိုင် X-Ray ကို အသုံးပြုလိုပါက အက်တမ်များစွာ ပါဝင်စုဖွဲ့ထားသော အရာဝတ္ထုများအတွက်သာ စူးစမ်းအသုံးပြုနိုင်ခဲ့ခြင်းဖြစ်သည်။

အက်တမ်အနည်းငယ်စီကို X-Ray ဖြင့် စူးစမ်းအသုံးပြုနိုင်ရန် သိပ္ပံပညာရှင်များ နည်းလမ်းရှာဖွေနေခဲ့သည်မှာ နှစ်ကာလ ကြာမြင့်နေခဲ့ပြီဖြစ်ပြီး ယခုမြန်မာလူမျိုး သိပ္ပံပညာရှင် ဒေါက်တာ စောဝေလှ ရှာဖွေသည့်အဖွဲ့က ယင်းနည်းပညာကို ရှာဖွေရရှိခဲ့ခြင်းဖြစ်သည်။

ဒေါက်တာ စောဝေလှ ဦးဆောင်သည့် သိပ္ပံပညာရှင်အဖွဲ့၏ရှာဖွေတွေ့ရှိမှုသည် အက်တမ်တစ်လုံးချင်စီ၏ ဂုဏ်သတ္တိများကို အသေးစိတ် လေ့လာနိုင်ရန် အကူအညီ အထောက်အပံ့ ပေးအပ်တော့မည်ဖြစ်ပြီး နောင်အနာဂတ်ကာလတွင် သဘာဝပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ သိပ္ပံပညာနှင့် ဆေးသိပ္ပံပညာရပ်များကို များစွာ အထောက်အကူပြုနိုင်တော့မည်ဟု သိရှိရသည်။

လက်ရှိကာလတွင် ကုသရန် ခက်ခဲနေသော ရောဂါများအတွက် ကုသနည်းအသစ်များကို ရှာဖွေနိုင်ရန် ဒေါက်တာစောဝေလှ ဦးဆောင်သော သိပ္ပံပညာအဖွဲ့က ရှာဖွေတွေ့ရှိလိုက်သည့် ယခု နည်းပညာသစ်က အကူအညီများ ပေးအပ်တော့မည်ဖြစ်ပြီး ယခုတွေ့ရှိမှုကို ဆောင်ရွက်ခဲ့သော သိပ္ပံပညာရှင်အဖွဲ့တွင် မြန်မာလူမျိုး ပညာရှင် ၂ ဦး ပါဝင်ခဲ့သည်ဟု သတင်းများက ဆိုသည်။

အဆိုပါ ပညာရှင် ၂ ဦးမှာ အိုဟိုင်းအိုးတက္ကသိုလ် ရူပဗေဒနှင့် နက္ခတ္တဗေဒပညာရှင်ဌာန ပရော်ဖက်ဆာ ဒေါက်တာ စောဝေလှနှင့် Postdoc ပညာရှင် ဒေါက်တာ ဦးကျော်ဇင်လတ်တို့ ဖြစ်ကြသည်။